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  • TEKHNE 露點(diǎn)儀 TK-100 介紹

    TEKHNE露點(diǎn)儀TK-100綜合介紹一、核心功能與測量對象TK-100的核心功能是精確測量氣體中的水分含量,并以多種參數(shù)顯示:露點(diǎn)溫度:核心參數(shù)。指氣體在恒定...

  • AE-162D用于超高速芯片電阻測試非常適合D、F、G、J、K級、片式、MELF、徑向和軸向電阻器的分選機(jī)和編帶機(jī)。由于模擬部分與數(shù)字部分的隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高兼容極小芯片(低功耗測量)超高速0.7msec.(典型值)熱電動勢抵消...

  • 自動化晶圓處理晶圓搬運(yùn)晶圓傳輸機(jī)批量-AHWT產(chǎn)品描述桌上型自動批量晶圓轉(zhuǎn)移工具。AHWT兼容高或低盒型運(yùn)輸料盒、加工料盒或金屬料盒。料盒感測器、等速控制和傳輸臂推力監(jiān)控使得AHWT非常可靠并且安全,是手動HWT系列的升級版。該工具具有電流...

  • 自動化晶圓處理檢查工具強(qiáng)光檢測儀-BLIS產(chǎn)品描述桌上型移動偵測觸發(fā)自動開/關(guān)檢測明亮箱,18英寸x18英寸x18英寸吸光的啞黑色陽極氧化處理觀測箱,配有純白可調(diào)LED燈。具有雜散光捕捉功能的BLIS可以輕易的裝設(shè)于生產(chǎn)線中,操作員可以實(shí)時(shí)...

  • 產(chǎn)品自動化晶圓處理檢查工具WPR-單晶圓展示器-旋轉(zhuǎn)描述自動單晶圓展示器設(shè)計(jì)用于將晶圓呈現(xiàn)給操作員以進(jìn)行檢查或從晶圓盒中取出晶圓以及用于宏觀檢查應(yīng)用。WPR可用于晶圓翻轉(zhuǎn)(反轉(zhuǎn))晶圓180°,用于背面應(yīng)用。專為ISO等級3(FS209E等級...

  • HighSpeedModelat1310nmIVS-2000-HS【特征】IVS-2000-HS是可以進(jìn)行高速測量的SS-OCT系統(tǒng),中心波長為1310nm。結(jié)合該波長的低散射系數(shù),IVS-2000-HS可對高散射材料進(jìn)行高對比度和更深的成...

  • HighResolutionModelat1310nmIVS-2000-HR【特征】IVS-2000-HR是擁有高分辨率,其中心波長為1310nmSS-OCT系統(tǒng)。該波長帶適合測量散射強(qiáng)的物體,因?yàn)榧词乖谏⑸涞奈矬w中,光也很容易到達(dá)深處。此...

  • UltraLongImagingModelat1060nmIVS-1000-VCSEL【特征】IVS-1000-VCSEL是一款具有可改變成像范圍特征的SS-OCT系統(tǒng),中心波長為1060nm。在此波段內(nèi)光不易被水吸收,適用于測量富含水分的...

  • santec/1310nm,高精度型號HSL-2100HSL-2100作為santec的HSL系列的暢銷產(chǎn)品HSL-2100是由多邊形掃描儀構(gòu)成。該光源的特征是高重復(fù)性和線性,不需要K-觸發(fā)器就可獲取數(shù)據(jù),因此可以簡單構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)。進(jìn)而實(shí)現(xiàn)...

  • 1060nm,高速掃描型號HSL-10HSL-10是一款基于MEMS技術(shù)的集成掃描激光器。比其他激光器更小型化,是一款可進(jìn)行性高速掃描的波長范圍1060nm的光源。這個(gè)波長范圍的光很難被水吸收,所以適用于視網(wǎng)膜成像等富含水分物體的測量。該光...

  • 1060nm,靈活的掃描速率和范圍HSL-1NEW可調(diào)諧垂直腔面發(fā)射激光器(VerticalCavitySurfaceEmittingLaser)HSL-1融合了santec自主研發(fā)的MEMS技術(shù)和VCSEL技術(shù),是一款單模高速波長掃描光源...

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